Compatibilité électromagnétique - CEM
Filtrage en CEM


 

     Les quatre papiers listé ci-dessous sont anciens, mais qui restent d'actualité. Ils furent présentés aux symposiums de Zurich et d'Evian sur la CEM entre 1987 et 1991. Ils appartiennent à une série de six articles que nous avons publiés sur nos recherches sur la conception de filtres d'alimentation. Les résultats de ces études ont été largement utilisés par la suite pour la création du logiciel Filtrexpert, et dans des missions d'ingénierie.

[B2] F. Broydé, "Dissipative filters for power electronics applications", proceedings of the 7th International Zurich Symposium on EMC, 3-5 March 1987, pp. 393-398.

[B7] F. Broydé, E. Clavelier, "Minimum attenuation and input impedance domain of a linear filter", proceedings of the 8th International Zürich Symposium on EMC, 7-9 March 1989, pp. 261-266.

[B9] F. Broydé, E. Clavelier, "Atténuation minimale et domaine d'impédance d'entrée d'un filtre linéaire", actes du 5e Colloque International sur la CEM, Evian, 12-14 septembre 1989, communication BII-3.

[B13] F. Broydé, E. Clavelier, "Designing power-line filter for their worst-case behaviour", proceedings of the 9th International Zürich Symposium on EMC, 12-14 March 1991, pp. 583-588.

     Le contenu de ces publications est pertinent pour ceux qui souhaitent acheter ou concevoir des filtres de lignes d'alimentation à hautes performances. Notons que le brevet [P1] concerne directement le filtre étudié dans l'article [B2] .

     Deux articles plus récents présentent une synthèse de l'état de l'art sur la caractérisation des filtres d'alimentation dans un pire cas, et sur les domaines d'impédance d'entrée :

[B80] F. Broydé, E. Clavelier, "Some issues on the characterization of power-line filters and related standards", IEEE Trans. Electromagn. Compat., Vol. 51, No. 2, August 2009, pp. 876-877.

[B99] F. Broydé, E. Clavelier, "Comments on « The Effect of the Imperfect Realization of the Artificial Mains Network Impedance on the Reproducibility of Conducted Emission Measurements »", IEEE Trans. Electromagn. Compat., Vol. 55, No. 6, December 2013, pp. 1370-1371.

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Dernière mise à jour : 7 janvier 2014 Ecrire à : webmaster@excem.fr